Transmissionselektronmikroskop (TEM) och svepelektronmikroskop (SEM) är mikroskopiska metoder för att titta på extremt små prover. TEM och SEM kan jämföras i provberedningsmetoder och tillämpningar av varje teknologi.
TEM
Båda typerna av elektronmikroskop bombarderar provet med elektroner. TEM är lämplig för att studera insidan av föremål. Färgning ger kontrast och skärningen ger ultratunna prover för undersökning. TEM lämpar sig väl för undersökning av virus, celler och vävnader.
SEM
Exemplar som undersöks av SEM kräver en ledande beläggning som guld-palladium, kol eller platina för att samla upp överflödiga elektroner som skulle skymma bilden. SEM är väl lämpad för att se ytan på objekt som makromolekylära aggregat och vävnader.
TEM-process
En elektronkanon producerar en ström av elektroner som fokuseras av en kondensorlins. Den kondenserade strålen och de överförda elektronerna fokuseras av en objektivlins till en bild på en fosforbildskärm. Mörkare områden i bilden indikerar att färre elektroner överfördes och att dessa områden är tjockare.
SEM Process
Precis som med TEM produceras en elektronstråle och kondenseras av en lins. Detta är ett kursobjektiv på SEM. En andra lins formar elektronerna till en tät, tunn stråle. En uppsättning spolar skannar strålen på liknande sätt som TV. En tredje lins riktar strålen in i den önskade delen av provet. Strålen kan uppehålla sig på en specificerad punkt. Strålen kan skanna hela provet 30 gånger per sekund.
